TWS耳机开合寿命试验机 FL-8706

一、设备简介：

充电盒翻盖寿命试验机用于耳机充电盒、翻盖手机、保护套等产品翻盖寿命测试，充电盒翻盖寿命试验机采用触摸屏控制，在一定角度、次数、速度模拟产品翻盖寿命测试。

二、技术参数：

1、测试工位：1工位

2、试验角度：0-180 度（触摸屏可设且显示）

3、测试速度：5-60 次/分钟（触摸屏可设）

4、翻盖次数：0-99999999 次（可预设且断电记忆功能）

5、测试治具：吸盘 

6、测试台面高度：0-50mm（可调节）

7、固定治具：可调式，1组

8、测试动作：打开翻盖＋闭合关闭

9、控制系统：触摸屏＋PLC

10、驱动系统：步进电机

11、机台尺寸（L×W×H）：约 500×450×550mm

12、工作电源：AC220V、50Hz